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SC-E大米外观品质检测仪

浏览量:224

更新时间:2020-06-17

简要描述:

用于各种类大米(精米、糙米、糯米等)各项外观品质指标的精准自动检测,可进行多参数、批量化的自动分析。

用途:用于各种类大米(精米、糙米、糯米等)各项外观品质指标的精准自动检测,可进行多参数、批量化的自动分析。

系统组成:双光源扫描成像仪及附件、分析软件和电脑(电脑另配)。

技术参数:

硬件规格

光学分辨率

4800×9600 dpi

根系透扫幅面积

30 cm×20 cm

最小像素尺寸

0.0053mm ×0.0026 mm

软件功能

分析测量

  1. 可自动一次性测量分析30g以上大米样品的:垩白度/率、碎米率及小碎米率、整精米数量、整精米率、大米透明度、黄粒米、杂质量、异品种粒、不完善粒(未成熟粒),及糯米的阴米率、病斑或黄变率。还可自动分析大米的碾米精度、裂纹率,以及糙米胚芽率。
  2. 自动测量每粒的面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径(长度测量误差≤±0.05mm,长宽比测量误差≤±0.05,重现性误差≤±0.02;整精米率、碎米率指标测量误差≤±1.0%、重现性误差≤±0.25%)。
  3. 可大批量自动分析处理与输出结果。与国标GB/T1350稻谷、GB/T17891优质稻谷或GB1354大米、农业部新标准【大米】NY/T2334-2013等标准相对应,检测各项指标的重量比和粒数比。
  4. 各分析图像、分布图、结果数据可保存,分析结果输出至Excel表,可输出分析标记图。
  5. 具有自动学习与识别特性,可自动分割粘连的大米、种粒,可做自动分类分析。
  6. 具有样本条码、电子天平RS232数据软件接口。可兼测的种粒直径范围0.3-20mm(最厚15 mm),自动测量精度≥99%,交互修正后准确率达100%

产地:中国

 

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